Novi doktorski studij

Popularizacija fizike

Uredovno vrijeme

Uredovno vrijeme za studente je radnim danom od 12 do 14 sati. U navedenom vremenu vrata hodnika Odjela za fiziku (prizemlje i prvi kat) bit će otključana, dok ulaz na suteren studentima nije dozvoljen. 

Napredne laboratorijske vježbe

Studij: Diplomski studij Fizika, Diplomski studij Inženjerstvo i fizika materijala 
Godina: II.
Semestar: ljetni
Broj sati u semestru (P+V+S): 0+0+60
Status predmeta: izborni
ECTS: 6

Opis predmeta:  .pdf

Izvedbeni program:  .pdf

Sadržaj
Studenti će u sklopu predmeta raditi u nekoliko laboratorija u Odjelu za fiziku i Centru za mikro i nano znanosti i tehnologije. Koristit će se sljedeće analitičke tehnike:
-XPS (elektronska spektroskopija pomoću rendgenskig zraka, X-ray Photoelectron Spectroscopy)
-SIMS (masena spektroskopija sekundarnih iona, Secondary Ion Mass Spectrometry)
-AFM (mikroskopija atomskih sila, Atomic Force Microscopy)
-SEM (pretražna elektronska mikroskopija, Scanning Electron Microscopy)
-XRF (fluorescencija x-zraka, X-ray Fluorescence)
Pomoću ovih tehnika studenti će provoditi elementnu analizu i dubinsko profiliranje elemenata i primjesa, proučavati površinske kemijske veze, karakterizirati promjene i defekte na površinama tankih filmova, poluvodičkih heterostruktura, složenih poluvodičkih spojeva i nanosistema, uključujući nanocjevčice.

Literatura
1. L.Feldman i J.Mayer: Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, PTR Prentice Hall, New Jersey, 1986.
2. H.Luth: Surfaces and Interfaces of Solid Materials, Springer Study Edition, Berlin, 2007.