Natječaj

Upisi na Program za stjecanje nedostajućih znanja, vještina i kompetencija za upis na Diplomski sveučilišni studij Inženjerstva i fizike materijala traju do 17. srpnja 2018. Tekst natječaja je ovdje.

Desetogodišnjica Odjela

Novi doktorski studij

Popularizacija fizike

Uredovno vrijeme

Uredovno vrijeme za studente je radnim danom od 12 do 14 sati. U navedenom vremenu vrata hodnika Odjela za fiziku (prizemlje i prvi kat) bit će otključana, dok ulaz na suteren studentima nije dozvoljen. 

Napredne laboratorijske vježbe

Studij: Diplomski studij Fizika, Diplomski studij Inženjerstvo i fizika materijala 
Godina: II.
Semestar: ljetni
Broj sati u semestru (P+V+S): 0+0+60
Status predmeta: izborni
ECTS: 6

Opis predmeta:  .pdf

Izvedbeni program:  .pdf

Sadržaj
Studenti će u sklopu predmeta raditi u nekoliko laboratorija u Odjelu za fiziku i Centru za mikro i nano znanosti i tehnologije. Koristit će se sljedeće analitičke tehnike:
-XPS (elektronska spektroskopija pomoću rendgenskig zraka, X-ray Photoelectron Spectroscopy)
-SIMS (masena spektroskopija sekundarnih iona, Secondary Ion Mass Spectrometry)
-AFM (mikroskopija atomskih sila, Atomic Force Microscopy)
-SEM (pretražna elektronska mikroskopija, Scanning Electron Microscopy)
-XRF (fluorescencija x-zraka, X-ray Fluorescence)
Pomoću ovih tehnika studenti će provoditi elementnu analizu i dubinsko profiliranje elemenata i primjesa, proučavati površinske kemijske veze, karakterizirati promjene i defekte na površinama tankih filmova, poluvodičkih heterostruktura, složenih poluvodičkih spojeva i nanosistema, uključujući nanocjevčice.

Literatura
1. L.Feldman i J.Mayer: Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, PTR Prentice Hall, New Jersey, 1986.
2. H.Luth: Surfaces and Interfaces of Solid Materials, Springer Study Edition, Berlin, 2007.