Napredne laboratorijske vježbe

Studij:Diplomski studij Fizika
             Diplomski studij Inženjerstvo i fizika materijala
Godina: II./I.
Semestar: ljetni
Broj sati u semestru (P+V+S): 0+0+60
Status predmeta: izborni
ECTS: 6

Opis predmeta:    Fizika    Inženjerstvo i fizika materijala

Izvedbeni program:  .pdf

Sadržaj
Studenti će u sklopu predmeta raditi u nekoliko laboratorija u Odjelu za fiziku i Centru za mikro i nano znanosti i tehnologije. Koristit će se sljedeće analitičke tehnike:
-XPS (elektronska spektroskopija pomoću rendgenskih zraka, X-ray Photoelectron Spectroscopy)
-SIMS (masena spektroskopija sekundarnih iona, Secondary Ion Mass Spectrometry)
-AFM (mikroskopija atomskih sila, Atomic Force Microscopy)
-SEM (pretražna elektronska mikroskopija, Scanning Electron Microscopy)
-XRF (fluorescencija x-zraka, X-ray Fluorescence)

Pomoću ovih tehnika studenti će provoditi elementnu analizu i dubinsko profiliranje elemenata i primjesa, proučavati površinske kemijske veze, karakterizirati promjene i defekte na površinama tankih filmova, poluvodičkih heterostruktura, složenih poluvodičkih spojeva i nanosistema, uključujući nanocjevčice.

Obvezna literatura
  1. L.Feldman i J.Mayer: Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, PTR Prentice Hall, New Jersey, 1986.
  2. H.Luth: Surfaces and Interfaces of Solid Materials, Springer Study Edition, Berlin, 2007.