Natječaj

Upisi na Program za stjecanje nedostajućih znanja, vještina i kompetencija za upis na Diplomski sveučilišni studij Inženjerstva i fizike materijala traju do 17. srpnja 2018. Tekst natječaja je ovdje.

Desetogodišnjica Odjela

Novi doktorski studij

Popularizacija fizike

Uredovno vrijeme

Uredovno vrijeme za studente je radnim danom od 12 do 14 sati. U navedenom vremenu vrata hodnika Odjela za fiziku (prizemlje i prvi kat) bit će otključana, dok ulaz na suteren studentima nije dozvoljen. 

Ivana Jelovica Badovinac

alt    doc. dr. sc. Ivana Jelovica Badovinac
 

   Curriculum vitae (.pdf)

   Javni portfelj

   Ured O-115
   Telefon: 584 607
   E-mail: ijelov@phy.uniri.hr
 
 
     Kolegiji (Odjel za fiziku):

   Fizika 1: Mehanika
   Fizika 4: Toplina i uvod u statističku fiziku
   Atomska i molekulska fizika
   
 

Obrazovanje:

18.11.2011. doktorirala na Prirodoslovno-matematičkom fakultetu u Zagrebu, polje: fizika, grana: atomska i molekulska fizika
29.10.2001. diplomirala na Filozofskom fakultetu u Rijeci, profesor matematike i fizike
1992-1996. Gimnazija Andrije Mohorovičića, prirodoslovno-matematički smjer

Znanstveno i stručno usavršavanje:

Laboratorij za molekulsku spektroskopiju i Europski laboratorij za nelinearnu spektroskopiju (LENS), Sesto Fiorentino, Italija, od 2005. do 2011. (ukupno 12 mjeseci)
Prva hrvatska ljetna škola sinkrotronskog zračenja, Rijeka, 2007.
Primjena metoda nuklearne fizike u datiranju i arhaeometriji, Institut Ruđer Bošković, Zagreb, 2008.
Elettra Sincrotrone Trieste (Basovizza, Italija) – mjerenja na sinkrotronu, linija BEAR (S. Nannarone) (20. – 22. 9. 2016., 3. – 5. 10. 2016., 20. – 21. 1. 2017.)
Atomic Layer Deposition: Fundamentals and Applications, Rijeka, 21. i 22. 9. 2017.


Znanstvena i stručna djelatnost:

Laboratorij za fiziku površina i materijala - Odjel za fiziku i Centar za mikro- i nanoznanosti i tehnologije, Sveučilište u Rijeci.

Glavna područja znanstvenoga rada:
Eksperimentalna fizika čvrstoga stanja i fizika površina: tehnike SEM (Scanning Electron Microscopy), SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry), XPS (X-ray Photoemission Spectroscopy), ALD (Atomic Layer Deposition), primjena sinkrotronskog zračenja u  površinskoj fizici.



Popis znanstvenih i stručnih radova:

CROSBI
Google Scholar