Natječaj

Upisi na Program za stjecanje nedostajućih znanja, vještina i kompetencija za upis na Diplomski sveučilišni studij Inženjerstva i fizike materijala traju do 17. srpnja 2018. Tekst natječaja je ovdje.

Desetogodišnjica Odjela

Novi doktorski studij

Popularizacija fizike

Uredovno vrijeme

Uredovno vrijeme za studente je radnim danom od 12 do 14 sati. U navedenom vremenu vrata hodnika Odjela za fiziku (prizemlje i prvi kat) bit će otključana, dok ulaz na suteren studentima nije dozvoljen. 

Uređaj za spektrometriju fotoelektrona rendgenskim zrakama



Laboratorij je 2009. godine, sredstvima HZZ-a i MZOŠ-a, nabavio XPS spektrometar njemačkog proizvođača SPECS, opremljen sljedećim dodatnim uređajima:
 
  • FOCUS 500 monokromatizirani izvor rendgenskih zraka (Al Kalpha i Ag Lalpha),
  • PHOIBOS 100 MCD-5 –  hemisferični analizator energije elektrona (promjera 100 mm) s detektorom od 5 kanala,
  • IQE 11/35 – ionski top za niskoenergetske ione inertnih i reaktivnih plinova (0.3 - 5 keV)
  • IQE 12/38 ionski top s fokusiranom ionskom zrakom i diferencijalnim pumpanjem,
  • precizan XYZ manipulator nosača uzoraka s kontroliranim grijanjem i hlađenjem (LN2 – 800oC),
  • turbo pumpa (Pfeiffer) i titanijeva sublimacijska pumpa (Hositrad) za glavnu komoru,
  • turbo pumpa (Pfeiffer) za predkomoru,
  • zatvoreni sistem vodenog hlađenja za izvor rendgenskih zraka i vakuumske turbo pumpe,
  • FG500 elektronski top za neutralizaciju površine,  
  • Residual Gas Analyser (Prisma Plus QMG 220)

 

   Spektroskopija fotoelektrona rendgenskim zrakama (X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) ili elektronska spektroskopija za kemijsku analizu (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, ESCA) je analitička tehnika za proučavanje elementalne strukture i kemijskih stanja na površinskim slojevima uzoraka. Primjenjuje se na širokom spektru materijala, od metala i poluvodiča do organskih ili bioloških uzoraka i polimera.

    XPS se temelji na međudjelovanju rendgenskih zraka s atomima na površini uzoraka, koje uzrokuje emisiju fotoelektrona s površine. Energije fotoelektrona, koje se analiziraju u elektronskom analizatoru,  karakteristične su za pojedine elemente prisutne unutar volumena pobuđenja. XPS je izrazito površinska tehnika s dubinom uzimanja signala do 70 Å. Uz dodatak izvora ionskih snopova koji na kontrolirani način mogu uklanjati slojeve površine, XPS nalazi široku primjenu u dubinskom elementnom profiliranju uzoraka i mjerenju debljine i uniformnosti tankih filmova.

     Posebnost XPS tehnike leži u mogućnosti određivanja kemijskog stanja detektiranih elemenata na površinama, poput razlikovanja oksidacijskih stanja različitih elemenata.



alt