Natječaji za upise

Natječaj za upis u I. godinu preddiplomskih i integriranih sveučilišnih studija te preddiplomskih stručnih studija Sveučilišta u Rijeci u 2018./2019. ak. god.

Natječaj za upis u I. godinu diplomskih sveučilišnih studija i specijalističkih diplomskih stručnih studija Sveučilišta u Rijeci i njegovih sastavnica u 2018./2019. ak. god.

Natječaji za radna mjesta

Natječaj za radna mjesta Odjela za fiziku Sveučilišta u Rijeci, srpanj 2018.   

Desetogodišnjica Odjela

Novi doktorski studij

Popularizacija fizike

Uredovno vrijeme

Uredovno vrijeme za studente je radnim danom od 12 do 14 sati. U navedenom vremenu vrata hodnika Odjela za fiziku (prizemlje i prvi kat) bit će otključana, dok ulaz na suteren studentima nije dozvoljen. 

Pretražni elektronski mikroskop (SEM)


 

Oprema je kupljena u sklopu projekta Razvoj istraživačke infrastrukture na kampusu Sveučilišta u Rijeci (RISK), koji je sufinancirala Europska unija iz Europskog fonda za regionalni razvoj.



 

Laboratorij: O-120

  JSM-7800F Field Emission Scanning Electron Microscope


 

Opis: Pretražni elektronski mikroskop (SEM): vrsta elektronskog mikroskopa koji omogućuje promatranje i karakterizaciju heterogenih organskih i anorganskih materijala na nanometarskoj (nm) i mikrometarskoj (μm) razini.
Namjena:
SEM omogućuje dobivanje slika površine širokog raspona materijala. Površina koju želimo ispitati ili mikro-obujam kojega želimo analizirati ozračen je dobro fokusiranim elektronskim snopom u svrhu stvaranja slike ili za elementnu analizu uzorka. Rezultati međudjelovanja elektronskog snopa s uzorkom mogu biti: sekundarni elektroni (emitirani iz uzorka), povratno raspršeni elektroni (iz elektronskog snopa) i karakteristično rendgenskog zračenje emitirano s uzorka. Signali se mogu koristiti za ispitivanje različitih karakteristika uzoraka, kao što su topografija površine, kristalografija, kemijski sastav, itd.
Tehničke specifikacije:
Model mikroskopa: JEOL pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja (JSM-7800F) s maksimalnom rezolucijom od 0.8 nm, naponom ubrzanja između 0.01 – 30 kV i rasponom povećanja: x25 – 1000000.
Mikroskop je opremljen sa sljedećim detektorima:
Godina proizvodnje:
2014.
 
Izvor financiranja:
EFRR projekt “Razvoj istraživačke infrastrukture na Kampusu Sveučilišta u Rijeci’’.
 
Kontakti:
doc. dr. sc. Ivna Kavre Piltaver (+ 385 51 584 618, ivna.kavre@uniri.hr)