Natječaji za radna mjesta

Natječaj za radna mjesta Odjela za fiziku Sveučilišta u Rijeci, kolovoz 2019.   

Popularizacija fizike

Studiranje u Hrvatskoj

Novi doktorski studij

Desetogodišnjica Odjela

HRZZ projekt

Uredovno vrijeme

Uredovno vrijeme za studente je radnim danom od 12 do 14 sati. U navedenom vremenu vrata hodnika Odjela za fiziku (prizemlje i prvi kat) bit će otključana, dok ulaz na suteren studentima nije dozvoljen. 

Laboratorij za elementnu mikroanalizu


Prostorija: O-022


 

   

VODITELJ LABORATORIJA

doc. dr. sc. Darko Mekterović
e-mail: 
darko.mekterovic@phy.uniri.hr

Ured: O-018
Tel: (051) 584 616

Curriculum vitae (.pdf)

  
     

ČLANOVI LABORATORIJA

izv. prof. dr. sc. Gordana Žauhar

Marija Čargonja


 

Vanjski suradnici


dr. sc. Tatjana Ivošević
 




ISTRAŽIVANJA


 


PUBLIKACIJE LABORATORIJA


 


EKSPERIMENTALNA OPREMA  

  • Ciklonski uzorkivač lebdećih čestica omogućava prikupljanje finih lebdećih čestica aerodinamičkog promjera manjeg od 2,5 μm na teflonskim filtrima. Uzorkivač se sastoji od pumpe i ciklona za odvajane čestica prema njihovom aerodinamičkom promjeru. 


  • X-Beam Superflux proizvođača X-Ray Optical Systems (XOS) je kompaktni izvor x-zračenja koji se koristi za ozračivanje uzoraka u XRF analizi. Efikasnim utroškom snage 50 W generira fokusirajući snop ekstremno velike gustoće toka, pritom održavajući optimalno optičko poravnanje. Posjeduje integrirano aktivno hlađenje i automatski izmjenjive filtere za optimiziranje spektralne karakteristike pobude. U sprezi s XYZ motoriziranim nosačima uzorka moguće je uzorak pomicati u sve tri osi i time zapravo definirati dio površine uzorka koji se ozračuje. Programiranom upotrebom XYZ nosača mogu se sistematski izrađivati elementne mape željenih površina.
xos.jpg

  • Amptek X123 spektrometar x-zraka je kompaktni integrirani detektorski sustav koji se sastoji od poluvodičkog kristala kao detektora x-zraka, digitalnog procesora signala i višekanalnog analizatora. Detektirano rendgensko zračenje prikuplja se u spektar iz kojeg se određuje elementni sastav uzorka. 
sdd_123.jpg