Glavni izbornik

Brošura

Promotivni video

Promotivni video

Doktorski studij

Znanstvena konferencija

HRZZ projekt



ASTRO-GAMMA

Interreg projekt

NPOO projekt


POMERI

LSST@Europe5

  •  

CERN Masterclass

Zbirka digitalnih sadržaja

Virtualna izložba

Studiranje u Hrvatskoj

Pretražni elektronski mikroskop (SEM)


 

Oprema je kupljena u sklopu projekta Razvoj istraživačke infrastrukture na kampusu Sveučilišta u Rijeci (RISK), koji je sufinancirala Europska unija iz Europskog fonda za regionalni razvoj.



 

Laboratorij: O-120

  JSM-7800F Field Emission Scanning Electron Microscope


 

Opis: Pretražni elektronski mikroskop (SEM): vrsta elektronskog mikroskopa koji omogućuje promatranje i karakterizaciju heterogenih organskih i anorganskih materijala na nanometarskoj (nm) i mikrometarskoj (μm) razini.
Namjena:
SEM omogućuje dobivanje slika površine širokog raspona materijala. Površina koju želimo ispitati ili mikro-obujam kojega želimo analizirati ozračen je dobro fokusiranim elektronskim snopom u svrhu stvaranja slike ili za elementnu analizu uzorka. Rezultati međudjelovanja elektronskog snopa s uzorkom mogu biti: sekundarni elektroni (emitirani iz uzorka), povratno raspršeni elektroni (iz elektronskog snopa) i karakteristično rendgenskog zračenje emitirano s uzorka. Signali se mogu koristiti za ispitivanje različitih karakteristika uzoraka, kao što su topografija površine, kristalografija, kemijski sastav, itd.
Tehničke specifikacije:
Model mikroskopa: JEOL pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja (JSM-7800F) s maksimalnom rezolucijom od 0.8 nm, naponom ubrzanja između 0.01 – 30 kV i rasponom povećanja: x25 – 1000000.
Mikroskop je opremljen sa sljedećim detektorima:
Godina proizvodnje:
2014.
 
Izvor financiranja:
EFRR projekt “Razvoj istraživačke infrastrukture na Kampusu Sveučilišta u Rijeci’’.
 
Kontakti:
doc. dr. sc. Ivna Kavre Piltaver (+ 385 51 584 618, ivna.kavre@uniri.hr)
 


 
.