"Istraživanje točkastih defekata u složenim poluvodičkim spojevima mjerenjem apsorpcije rentgenskoga zračenja i teorijom višestrukoga raspršenja"

Predavač:

Dr. sc. Robert Peter

Centar za mikro i nano znanosti i tehnologije

Mjesto i vrijeme:

Srijeda, 16. prosinca 2015. u 12:00 sati
Predavaona O-153
Sveučilišni Kampus na Trsatu
Radmile Matejčić 2
51000 Rijeka

Sažetak:

U seminaru predstavljamo istraživanje provedeno na poluvodičkim materijalima: borovom nitridu, BN, (heksagonalnoj i kubičnoj fazi te nanocjevčicama), galijevom nitridu, GaN, i cinkovom oksidu, ZnO, koji su bili izlagani niskoenergijskom ionskom bombardiranju, koje stvara niz točkastih defekata u tim materijalima. Karakterizacija nastalih točkastih defekata je provedena spektroskopskim tehnikama baziranim na interakciji rentgenskoga zračenja s materijalom: Spektroskopskom metodom fine strukture apsorpcije rentgenskih zraka blizu rubova ljuski (NEXAFS) i Spektroskopijom fotoelektrona rentgenskim zrakama (XPS). Obje tehnike ispituju elektronsku strukturu materijala i mogu utvrditi nastanak defekta u materijalu, budući da dani defekt stvara nova elektronska stanja u materijalu. Uz navedene eksperimentalne metode, koristili smo i teoriju višestrukoga raspršenja, ugrađenu u računarni kod FEFF, za proračune NEXAFS mjerenja, pomoću kojih se dobivaju informacije o vrsti i položaju defekta u rešetki poluvodiča
 

"Analiza eksperimentalnih podataka u fizici elementarnih čestica"

Doc. dr. sc. Darko Mekterović

Sveučilište u Rijeci - Odjel za fiziku
 

Mjesto i vrijeme:

Srijeda, 27 svibanj 2015 u 12 h 
Predavaona  O-153
Sveučilišni kampus
Radmile Matejčić 2
51000 Rijeka


Sažetak:
 

Bit će prikazana analiza na kojoj sam osobno sudjelovao: mjerenje udarnog presjeka za proces s direktnim fotonima na CMS eksperimentu.

"LSST: Large Synoptic Sky Survey, teleskop nove generacije"

Tomislav Jurkić

Sveučilište u Rijeci - Odjel za fiziku
 

Mjesto i vrijeme:

Srijeda, 29. travanj 2015. u 12 h 
Predavaona  O-153
Sveučilišni kampus
Radmile Matejčić 2
51000 Rijeka


Sažetak:

LSST (Large Synoptic Sky Survey) je međunarodni projekt snimanja i pregleda neba, najveći poduhvat takve vrste ikad poduzet u astronomiji, te američki strateški projekt broj 1 među srednje velikim teleskopima. LSST nije 'samo još jedan teleskop', već doista jedinstven uređaj koji će omogućiti potpuno nov pogled u istraživanje svemira. Zahvaljujući inovativnom dizajnu, veličini teleskopa, velikoj brzini te širokom kutu snimanja neba, LSST će od 2020. g. snimati cjelokupno nebo svaka tri dana kroz 10 godina, omogućavajući gotovo filmsko opažanje neba i astronomskih pojava tijekom jedne dekade. Samo u prvom mjesecu svog rada ovaj će teleskop opaziti više astronomskih objekata nego svi teleskopi zajedno u cijeloj ljudskoj povijesti. Vrhunska kvaliteta snimaka omogućit će kartiranje svemira u 3 dimenzije, a vremenska komponenta opažanje svemira u boji u realnom vremenu. Značaj ovog projekta je izuzetan, i vrlo vjerojatno će uzrokovati veliki napredak u svim područjima astronomije i fizike, posebno kroz istraživanje tamne materije i tamne energije. Očekuje se da će ovaj teleskop dati sasvim nov uvid u istraživanje Sunčeva sustava (asteroidi, patuljasti planeti), prirode tamne tvari i tamne energije, optičkih tranzijenata (promjenjive zvijezde, supernove, izbačaji gama–zračenja) te strukture Mliječnog puta. LSST će sinergijski opažati svemir sa drugim velikim pregledima neba i teleskopima u različitim spektralnim područjima poput Gaie, Alme ili SKA. Iz tog je razloga već danas potrebno uključiti se u ovaj projekt kako bi se optimizirala strategija opažanja, sinergijski učinak, obrada slika i njihova distribucija.

Hrvatski astrofizičari već duže vrijeme aktivno sudjeluju u ovom projektu te se u skoro vrijeme planira dovršenje pristupanja LSST korporaciji. Na seminaru će biti riječi i o mogućnostima koje LSST pruža riječkim astrofizičarima, posebno u području promjenjivih zvijezdi, dvojnih sustava, cirkumstelarne okoline, visokoenergijske astrofizike i gama astronomije.

Three-mode cooling of a thin membrane inside a Fabry-Perot cavity

Department of Physics
University of Rijeka, 51000, Rijeka, Croatia.


Place and time:

Wed, 8 April 2015 at 13 h
Room  O-153
University Campus
Radmile Matejčić 2
51000 Rijeka

Abstract:

By pairing optical and microwave cavities with mechanical resonators, one acquires a means to observe and control quantum states of objects of nanometer and micrometer size. Cavity optomechanical systems also hold promise as a resource to generate entangled states of light, possibly applicable in quantum computers and communication, and set a new standard in precision in measurements of small forces and displacements. In this talk I will describe such a setup situated at the University of Camerino, Italy, and present my PhD project on three-mode cooling of the mechanical element, which should allow for much stronger optomechanical coupling, simplifying ground-state cooling and displaying robust tripartite entanglement.

"Spectroscopic Ellipsometry of thin films at solid/liquid and solid/gas interfaces"

Gaurav Pathak

Centre for Micro and Nano Sciences and Technology
University of Rijeka, 51000, Rijeka, Croatia.


Place and time:

Wed, 25 March 2015 at 13 h 
Room  O-153
University Campus
Radmile Matejčić 2
51000 Rijeka

Ellipsometry is a non-destructive optical technique, which permits measurement of the change in the polarization state of the elliptically polarized light undergoing oblique reflection from a sample surface. The presence of a thin layer at the boundary surface between two optical media causes a modification in the way that the polarization state of light changes upon reflection, which can be related to the thickness of the film and the complex dielectric function of its material. The goal of the talk is to present the ellipsometric measurements preformed with thin organic films on silicon, and discuss these results in the light of the available optical and electrodynamic models. Dependence between optical constants and thickness of a layer describing the elliptically polarized light, can be found on the basis of the Fresnel formulas. The optical constants for an unknown material can be modeled on the basis of the eletrodynamic theory. We modeled optical constants of thin films of poly (3,4-ethylenedioxythiophene): poly(styrene sulfonate) (PEDOT:PSS) with a Lorentz-Drude (L-D) model. The thickness calculated by applying the L-D modelled film was found to be in good agreement with the Atomic Force Microscopy measurements.